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Bettersizer S3 Plus Particle Size and Shape Analyser
by Laser Diffraction and Dynamic Image Analysis |
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| Bettersizer S3 Plus Particle Size & Shape Analyser + BT-803 Auto Wet Disperser | |
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| BT-803 Auto Wet Disperser | |
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| Bettersizer S3 Plus + BT-803 Auto Wet Disperser + BT-A60 Auto Sampler | |
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| Patented DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) System | |
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| Cat. No. |
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| Bettersizer S3 Plus Particle Size & Shape Analyser |
견적요청 |
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| BT-803 Auto Wet Disperser |
견적요청 |
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| BT-A60 Auto Sampler |
견적요청 |
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Bettersizer S3 Plus 는 laser diffraction analysis 와 dynamic image analysis 를 하나의 장비에 통합하여
입자의 크기분석과 형태 분석을 동시에 할 수 있는 시스템.
특허받은 DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) system 에 의해 큰 입자에서 부터 극초미세 입자 (high sensitivity) 까지 정밀하게 (high resilution) 측정할 수 있는
가장 강력한 입도 분석 시스템입니다. |
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Laser Diffraction Analysis 장치와 Dynamic Image Analysis 장치가 하나의 시스템으로 통합되어 입자의 크기와 형태를 동시에 분석하는 장비 |
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입자 측정 범위 :
- 레이저 회절법 (laser duffraction) : 10 nm - 3500 μm
- 동적 이미지 분석 (dynamic image anlaysis) : 2 μm - 3500 μm |
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High Sensitivity & High Resolution :
두 개의 렌즈를 이용하고 입사광을 비스듬하게 입사시키는, 특허받은 DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) system 이 장착되어 있어
타사 장비에 비해 훨씬 넓은 각도 범위의 (0.02° ~ 165°) 입자 측정이 가능하다. 이 특성에 의해 Bettersizer S3 Plus 는 큰 입자에서 부터 10 nm 에 이르는
극초미세 입자까지 크기 측정이 가능한데 이는 Bettersizer S3 Plus 의 입도분석을 위한 sensitivity 가 매우 탁월하다는 것을 의미한다.
레이저 입사광이 sample cell 에 비스듬히 입사되므로 sample cell 내의 반사광 생성이 최대 억제되고
light detector 에 더 많은 회절광이 도달하게 되어 작은 입자의 resolution 이 크게 향상된다.
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Dual-Camera Imaging Technology :
0.5X, 10X 두 개의 CCD camera 를 장착하여 실시간으로 최대 3500 μm 크기의 입자까지 측정할 수 있으며 입자의 크기와 형태를 동시에 분석하는 장치 내장
- 0.5X camera : 20배 확대
- 10X camera : 400배 확대 |
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Refractive Index Measurement :
굴절률 확인이 까다로운 경우 Bettersizer S3 Plus 는 장비 자체에 내장된 굴절률 데이터를 이용하여 굴절률을 입력하도록 한다.
샘플의 Light Intensity 를 Scanning 하여 Intensity 그래프를 만들고 장비에 저장된 수많은 Intensity 그래프중에서
가장 유사한 그래프의 굴절률을 선택하여 sample 의 굴절률로 사용하는 방식으로 매우 효율적으로 굴절률 값을 이용할 수 있는 방법이다. |
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3가지 자동 조절 기능 :
| ① |
Automatic Alignment of Detector : forward detector 의 중심을 fourier 렌즈의 초점과 일치하게 자동으로 맞춰주는 기능 |
| ② |
Auto-adjustment of Laser Power : 샘플의 산란 강도의 변화에 따라 레이저의 전력을 자동 조절 |
| ③ |
Confirmation of Background Status : 자동으로 background status 확인을 통해 샘플이 없는 상태에서 base line 신호 측정 |
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입자크기, 입자분포도, 입자형태 분석을 10초만에 완료 |
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532nm 짧은 파장의 레이저 광선을 이용하므로 미세입자의 정밀 측정에 적합 |
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0.02° ~ 165° 의 넓은 각도에서 총 96 개의 검출기에서 입자를 측정하므로 극미세 입자부터 큰 입자까지 폭 넓게 측정 가능 |
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solid state 레이저를 이용하므로 초기 전원 가동시 진행하는 stabilization 과 preheating 단계를 진행할 필요가 없다. |
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Compliance with 21 CFR Part 11, ISO 13320, USP <429>, CE |
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| Overall Diagram of Bettersizer S3 Plus Particle Size and Shape Analyser |
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| Patented DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) system |
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sample cell 좌우에 2개의 Fourier Lens 를 위치시키고 레이저광을 sample cell 에 비스듬하게 입사하는 특허받은 구조로 되어 극히 미세한 입자의 크기를 측정할 수 있으며 (High Sensitivity),
또한 아주 약한 회절산란광 신호도 더 선명하게 만들어 정확한 입자크기를 확인 가능하게 하는 특징 (High Resolution) 이 있다. |
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이런 광학 구조하에서 sample cell 내의 입자에서 회절되는 회절산란광은 0.02° ~ 165° 의 넓은 각도로 나아가게 된다. |
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레이저광이 나아가는 방향에서 전방, 측방, 후방 3가지 방향의 적절한 각도 위치에 총 92개의 detector (광검출기) 가 위치하여 해당 각도로 들어오는 회절산란광을 검출 |
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특히 후방 검출기에서 검출되는 회절산란광은 극초미세 입자에서 회절되는 산란광이므로 10nm 에 이르는 극히 미세한 입자의 크기도 측정 가능 (High Sensitivity) |
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2개의 Fourier Lens 는 넓은 각도 범위의 회절산란광을 형성시키고 또한 회절산란광 신호를 더욱 선명하게 해주는 기능을 한다. |
| Dual-Camera System : Dynamic Image Analysis |
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레이저회절과는 별개로 입자의 모양과 형태에 대한 정보를 측정하는 장치로서 개별입자의 크기와 형태분석 외에도 agglomerates, 파쇄된 입자 와 같은 다양한 형태의 입자도 분석이 가능하다 |
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0.5X 와 10X CCD Camera 를 이용하여 2μm 에서 3500 μm 에 이르는 넓은 범위의 입자 크기를 측정
- 0.5X 는 20배 확대   - 10X 는 400배 확대 |
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1분에 10,000 개의 입자크기를 측정 가능하며 동시에 입자의 모양도 분석한다. |
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광학적인 특성을 알지 못하는 heterogenous sample 을 측정하는 데 효용성이 매우크다 |
| Refractive Index Measurement |
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Mie 이론을 기반으로 레이저 회절법을 이용하기 위해서는 굴절율 값 (Refractive Index) 이 반드시 필요하다. |
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그러나 sample 이 굴절률을 알 수 없는 입자들로 이루어 져 있거나 heterogenous chemical composition 등으로 이루어 진 sample 일 경우에는
입도 분석을 위해 굴절률 값을 입력하는 것이 거의 불가능하다. |
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이런 경우에는 Bettersizer S3 Plus 에 내장되어 있는 굴절율 데이터를 이용하여 가장 적합한 굴절율을 선택하여 사용한다. |
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장비에는 미리 저장된 다양한 물질 (용매 & 입자) 에 대한 굴절률 값과 이론적으로 예측된 빛 산란 강도 그래프 (Scattered Light Intensity Graph : 굴절률 기반의 산란 패턴) 를 내장하고 있습니다.
이 그래프는 샘플 입자가 빛을 산란시키는 패턴 (각도와 강도) 에 기반하여 X축 (산란 각도), Y축 (빛의 강도, Intensity) 으로 구성되는 그래프입니다.
수많은 그래프 데이터가 장비에 내장 되어 있으며 이 모든 그래프는 굴절률 값을 가지고 있습니다.
장비에 sample 을 넣고 Refractive Index Measurement 기능을 선택하면 장비는 sample 의 산란광의 Light Intensity 를 측정하여 Scattered Light Intensity Graph 를 작성하게 됩니다.
그리고 측정된 산란광 그래프와 가장 유사한 형태를 가진 산란광 그래프를 장비에 저장된 데이터에서 검색하여 가장 유사성이 높은 데이터부터 출력하게 됩니다. |
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| 사용자는 이 검색결과로 부터 적합한 Scattered Light Intensity Graph 를 선정하고 이 데이터에 있는 굴절률 값을 이용하여 입도 분석 작업을 진행하게 됩니다. |
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| Materials |
Refractive Index (literature) |
Refractive Index (measured) |
| CaCO₃ |
(1.53 - 1.65) - 0.1i |
1.62 0 0.1i |
| BaSO₄ |
1.65 - 0.1i |
1.68 0 0.1i |
| ZnO |
2.008 - 0.1i |
2.02 - 0.1i |
| Carbon Black |
1.88 - 0.55i |
2.02 - 0.1i |
| Al Powder |
1.4 - 3.9i |
1.42 - 3.0i |
| SiO₂ - Quartz |
1.54 - 0.00i |
1.54 - 0.01i |
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| 이 데이터에서 보듯이 Bettersizer S3 Plus 장비에 의해 측정된 Refractive Index 는 실제 문헌에서 알려진 Refractive Index 와 거의 유사하다는 것을 알 수 있다. |
| Bettersizer S3 Plus 의 3 가지 자동 조절 기능 |
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Automatic Alignment of Detector Set :
매 테스트 전에 장비는 자동으로 모든 detector 를 fourier 렌즈의 초점과 일치하게 맞춰주는 기능이다.
측정 전에 분석기는 항상 자동으로 detector 를 미세 이동하여 초점을 맞춰 측정 과정에서 detector 가 정확한 광 신호를 수신할 수 있도록 보장한다 |
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Auto-adjustment of Laser Power : |
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샘플의 산란 강도의 변화에 따라 레이저의 전력을 자동 조절함으로써 최적의 레이저 출력을 보장하고 레이저의 수명을 연장한다. |
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Confirmation of Background Status : |
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장비는 자동으로 background status 확인을 통해 샘플이 없는 상태에서 base line 신호를 측정함으로서 추후 샘플 측정 데이터에서
base line 신호를 차감하여 결과의 정확도를 높인다. 또한 이 과정을 통해 sample cell 의 오염을 확인할 수 있다 |
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BT-803 Automatic Wet Dispersion Module
물을 기반으로 하는 용매에 있는 물질의 입도를 측정할 때 사용하는 보조 장치.
| ① |
50 watt 의 초음파를 이용하여 입자들 분산시키는 기능 |
| ② |
본체와 연결된 silicone tube 를 통해 측정 샘플을 순환시키는 기능 |
| Dispersion Module |
BT-803 |
| Volume |
600ml |
| Automation |
Fully Automated |
| Compatibility |
Samples in Aqueous Dispersants |
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BT-80N Anti-Corrosive Wet Dispersion Module
유기용매에 있는 물질의 입도를 측정할 때 사용하는 보조 장치
| ① |
50 watt 의 초음파를 이용하여 입자들 분산시키는 기능 |
| ② |
본체와 연결된 silicone tube 를 통해 측정 샘플을 순환시키는 기능 |
| Dispersion Module |
BT-80N |
| Volume |
80ml |
| Automation |
Semi Automated |
| Compatibility |
Samples in Organic Dispersants |
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BT-A60 High-Throughput Autosampler
습식 샘플을 자동으로 측정하기 위해 설계된 High-Throughput Auto Sampling System
| Autosampler |
BT-A60 |
| Measurable Upper Limit |
200 μm |
| Sample Capacity |
60 samples |
| Sampling Volume |
0.5ml - 5ml |
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| Specifications of Bettersizer S3 Plus |
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| Parameter Measured |
| Particle size distribution |
Suspension, emulsion, dry powders |
| Particle shape |
| General |
| Principle |
Laser diffraction and dynamic image technologies |
| Analysis |
Mie scattering theory and Fraunhofer diffraction theory |
| Typical measurement time |
Less than 10 seconds |
| Measurement Performance |
| Measuring range |
0.01 - 3500 μm (Laser System),   2 - 3500 μm (Image System) |
| Accuracy |
<0.5% (NIST certified standards) |
| Repeatability |
<0.5% (NIST certified standards) |
| Number of size classes |
≤100 (adjustable) |
| Feeding mode |
Automatic circulation or semi-automatic circulation |
| Special functions |
Refractive index measurement, SOP settings |
| Image recognition |
Up to 120 fps, up to 10,000 particles per min |
| Main Device |
| Optical system |
Patented DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) System |
| Laser |
Polarized light-pumped solid-state laser (10 mW / 532 nm) |
| Detector |
96 detectors (forward, lateral and backward arrangements) |
| Measuring angle |
0.02 - 165° |
| CCD cameras |
0.5x and 10x * |
| Image analysis |
1.5 megapixels |
| Dispersion Module |
| Circulation speed |
300 - 2500 r/min |
| Circulation flow rate |
3000 - 8000 mL/min |
| Ultrasonication |
Dry run protection, Max 50 W (adjustable) |
| Circulation tank capacity |
600 mL |
| Software |
| Conformity |
21 CFR Part 11, ISO 13320, ISO 13322, USP <429> |
| Report |
Customizable reporting |
| System Parameters |
| Dimensions (L x W x H) |
820 × 610 × 290 mm |
| Weight |
48 kg |
| Voltage |
DC 24 V, 50 / 60 Hz, 20 W |
| System Parameters |
| Computer interface |
At least one high-speed USB 2.0 or USB 3.0 port required |
| Operating system |
Windows 7 / Windows 10 |
| Hardware specification |
Intel Core i7, 8GB RAM, 500GB HD, two PCI-E X16 interfaces |
| * The Bettersizer S3 Plus is also available in a single camera (0.5x) model. Contact us for more information. |
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